近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS06044

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2006/08/12

タイトル(英語): Robust Registration of Defect Set by Local Consistency of Point Data

著者名: 浦野 貴裕(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),金子 俊一(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),田中 孝之(北海道大学大学院情報科学研究科システム制御情報学研究室),前田 俊二(日立製作所生産技術研究所),渋谷 久恵(日立製作所生産技術研究所),吉田 実(日立製作所生産技術研究所)

著者名(英語): Takahiro Urano(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Shun'ichi Kaneko(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Takayuki Tanaka(Graduate School of Information Science and Technology,Hokkaid Univ.),Shunji Maeda(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.),Hisae Shibuya(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.),Minoru Yoshida(Production Engineering Research Laboratory,Hitachi,Ltd.)

キーワード: 点群照合| 欠陥検査| ロバスト性| LCPD

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 689 Kバイト