単眼視ステレオ法を用いた端子リード変形欠陥検出法の実用化

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS07002

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2007/02/24

タイトル(英語): Practical Use of Method for Deformation Defect Inspection of Terminal Lead by Single-Camera-Stereo Measurement System

著者名: 草野 洸(中京大学),渡辺 隆(中京大学),藤原 孝幸(中京大学),輿水 大和(中京大学)

著者名(英語): Akira Kusano(Chukyo University),Takashi Watanabe(Chukyo University),Takayuki Fujiwara(Chukyo University),Hiroyasu Koshimizu(Chukyo University)

キーワード: 平坦度検査|端子リード|単眼ステレオ計測|画像処理|計測アルゴリズム|Flatness inspection|Terminal lead|Single camera stereo measurement|Image processing|Measurement algorithm

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 649 Kバイト