共起ヒストグラムを用いた欠陥分類システムの研究

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS07007

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2007/02/24

タイトル(英語): Researching of Defects Classification System using Co-occurrence Histogram

著者名: 伊賀 哲平(香川大学),林 純一郎(香川大学),秦 清治(香川大学)

著者名(英語): Teppei Iga(Kagawa University),Jun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University)

キーワード: 共起ヒストグラム|欠陥分類システム|欠陥検出|ニューラルネットワーク|画像処理|Co-occurrence Histogram|Defects Classification System|Defects Detect|Neural Network|Image Processing

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 510 Kバイト