共起ヒストグラム画像による広範囲分布欠陥の認識

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS07040

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2007/08/11

タイトル(英語): Recognize of Wide-spread Defect Using Co-occurrence Histogram Image

著者名: 伊賀 哲平(香川大学),田中 崇輝(香川大学),林 純一郎(香川大学),秦 清治(香川大学)

著者名(英語): Teppei Iga(Kagawa University),Takateru Tanaka(Kagawa University),Jun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University)

キーワード: 共起ヒストグラム画像|欠陥分類|外観検査|ニューラルネットワーク|画像処理|Co-occurrence Histogram Image|Defects Classification|Visual Inspection|Neural Network|Image Processing

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 763 Kバイト