共起ヒストグラムを用いた欠陥画像分類のための周期性評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS08006

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2008/02/22

タイトル(英語): A Periodicity Evaluation using Co-occurrence Histogram Image for Visual Defects Classification

著者名: 林 純一郎(香川大学),伊賀 哲平(香川大学),秦 清治(香川大学)

著者名(英語): Jun-ichiro Hayashi(Kagawa University),Teppei Iga(Kagawa University),Seiji Hata(Kagawa University)

キーワード: 共起ヒストグラム画像|欠陥分類|外観検査|co-occurrence histogram image|defect classification|visual inspection

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,124 Kバイト