特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS08038

グループ名: 【D】産業応用部門　産業システム情報化研究会

発行日: 2008/07/25

タイトル(英語): Defect Classification Using Feature Selection and Bayes Rule

著者名: 堀田 政二(東京農工大学),菊地 啓(東京農工大学),近藤 和樹(東京農工大学),渋谷 久恵(日立製作所),前田 俊二(日立製作所)

著者名(英語): Seiji Hotta(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Kei Kikuchi(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Kazuki Kondo(Tokyo Univ. of Agri. and Tech.),Hisae Shibuya(Hitachi,Ltd.),Shunji Maeda(Hitachi,Ltd.)

キーワード: 欠陥分類|特徴選択|ベイズ決定則|ポテンシャル関数法|Defect classification|feature selection|Bayes decision rule|potential function method

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 587 Kバイト