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入退管理システム向け なりすまし検知技術

入退管理システム向け なりすまし検知技術

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS12058

グループ名: 【D】産業応用部門 次世代産業システム研究会

発行日: 2012/08/24

タイトル(英語): Masquerade detection technology for IC card access control systems

著者名: 小松 佑人(日立製作所),永吉 洋登(日立製作所),吉永 智明(日立製作所),松原 大輔(日立製作所),影広 達彦(日立製作所),斉藤 貴敏(日立情報通信エンジニアリング),染谷 哲(日立情報通信エンジニアリング)

著者名(英語): Yuto Komatsu(Hitachi,Ltd.),Hiroto Nagayoshi(Hitachi,Ltd.),Tomoaki Yoshinaga(Hitachi,Ltd.),Daisuke Matsubara(Hitachi,Ltd.),Tatsuhiko Kagehiro(Hitachi,Ltd.),Takatoshi Saito(Hitachi Information & Communication Engineering,Ltd.),Satoshi Someya(Hitachi Information & Communication Engineering,Ltd.)

キーワード: なりすまし|顔認証|類似画像検索|入退管理

要約(日本語): ICカードを用いた入退管理システム向けに、入退室のたびに登録される顔画像により認証を行う「なりすまし」検知技術を開発した。本技術を用いた入退管理システムは、入退室のたびに撮影した顔画像を認証のためのデータベースとして逐次登録し、照合に用いる。そのため、経年変化に対応した顔画像の更新作業が不要となる。また、膨大な登録画像をもとにしたリアルタイムでの本人認証を実現する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 879 Kバイト

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