SoC型FPGAにおける論理回路の耐故障化に関する検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IIS19011

グループ名: 【D】産業応用部門 次世代産業システム研究会

発行日: 2019/03/10

タイトル(英語): A study on fault tolerant logic circuit on SoC-FPGA

著者名: 荻堂 盛也(豊橋技術科学大学),藤枝 直輝(豊橋技術科学大学),市川 周一(豊橋技術科学大学),山田 親稔(沖縄工業高等専門学校),宮城 桂(沖縄工業高等専門学校)

著者名(英語): Seiya Ogido(Graduate School, Toyohashi University of Technology),Naoki Fujieda(Toyohashi University of Technology),Shuichi Ichikawa(Toyohashi University of Technology),Chikatoshi Yamada(National Institute of Technology,Okinawa College),Kei Miyagi(National Institute of Technology,Okinawa College)

キーワード: 動的部分再構成|組込みシステム|組込みＬｉｎｕｘ|Dynamic Partial Reconfiguration|Embedded Systems|Embedded Linux

要約(日本語): 航空産業や宇宙産業など，組込みシステムの信頼性が重要視される分野において，半導体部品の動作保証は重要な問題とされてきた．近年では，再構成型デバイスを用いて回路を作成し，故障の度に再構成を実行することで故障状態から復帰する再構成型耐故障アーキテクチャが注目されている．本論文では，これまでに私たちが提案してきた耐故障化手法について，SoC型FPGAを用いた自律的再構成手法の実装について検討を行う．

要約(英語): Processor products used in the space industry and others are required to be highly reliable.In recent years, a reconfigurable fault-tolerant architecture using blank circuit spaces has attracted attention. In this paper, we report an implementation of our fault tolerance method using SoC-type FPGA.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 3,167 Kバイト