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微小線状散乱体によるTEMセル内の電界分布測定

微小線状散乱体によるTEMセル内の電界分布測定

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM08030

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2008/06/19

タイトル(英語): Field Strength Measurement of a TEM Cell by Using a Short Wire Scatterer

著者名: 森岡 健浩(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Takehiro Morioka(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: TEMセル|散乱体|リアクション|反射係数|電界均一性|TEM cell|passive scatterer|reaction theorem|reflection coefficient|field uniformity

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 976 Kバイト

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