不均一電界中のプローブ応答

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM10034

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2010/06/25

タイトル(英語): Response of a dipole probe to a non-uniform E-field

著者名: 森岡 健浩(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Morioka Takehiro(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: ＴＥＭセル|電界強度|プローブ|校正|有限要素法|モーメント法|TEM cell|E-field strength|probe|calibration|finite element method|method of moment

要約(日本語): TEM導波路を用いたプローブ校正では、プローブ位置での電界強度は均一と仮定される。しかし、TEMセル内の電界推定に用いられる従来手法はセル中央の電界強度を与えるが、分布を知ることはできない。そこで、本稿では有限要素法によってTEMセル内の電界分布を求め、その電界中にプローブとして用いられる微小ダイポールを配置し、その応答をモーメント法によって求めた。これらの計算値と測定値を比較し、良い一致を得た。

要約(英語): Probe responses to a non-uniform E-field of a TEM cell are investigated. The E-field distribution of a cell is simulated by using the finite element method (FEM), and the obtained E-field is applied to a short dipole probe. the probe responses are calculated by using the method of moment (MoM).

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 5,694 Kバイト