XeFAによる熱拡散率測定の信頼性評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM14015

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2014/03/07

タイトル(英語): Reliability of the thermal diffusivity measurement using xenon flash analyzer

著者名: 沼尻 治彦(東京都立産業技術研究センター),佐々木 正史(東京都立産業技術研究センター),飛澤 泰樹(東京都立産業技術研究センター),林 孝星(東京都立産業技術研究センター),山中 寿行(東京都立産業技術研究センター),吉野 徹(東京都立産業技術研究センター),大久保 一宏(東京都立産業技術研究センター)

著者名(英語): Numajiri Haruhiko(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Sasaki Masashi(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Tobusawa Taiki(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Hayashi Kosei(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Yamanaka Toshiyuki(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Yoshino Toru(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute),Ookubo Kazuhiro(Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute)

キーワード: 熱拡散率|パルス加熱法|キセノンフラッシュアナライザー|Thermal Diffusivity|Thermal Pulse Method|Xenon Flash Analyzer

要約(日本語): 熱伝導率や熱拡散率等の熱物性における主要なファクターは、近年では省エネルギーなどの熱利用から回路の小型集積化による熱対策に至るまで、あらゆる場面で注目されている。そこでキセノンフラッシュアナライザーを用いて熱拡散率測定の信頼性を評価した。試料4種類に対して繰り返しによる再現性、測定者の違いによる再現性や厚さ依存性等について報告する。

要約(英語): The thermophysical property of materials is important factor in the thermal design. Especially, it is important to get to know the thermal diffusivity and the thermal conductivity of materials. Then, we evaluated the reliability of thermal diffusivity measurement using Xenon flash analyser. The reproducibility of measurement, thickness dependence, etc. is reported.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 721 Kバイト