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電磁波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定(その2)

電磁波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定(その2)

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM14022

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2014/06/13

タイトル(英語): Measurement of refractive index of dielectric material with rough surface by reflection of electromagnetic waves (part 2)

著者名: 福地 哲生(電力中央研究所),布施 則一(電力中央研究所),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Fukuchi Tetsuo(Central Research Institute of Electric Power Industry),Fuse Norikazu(Central Research Institute of Electric Power Industry),Mizuno Maya(National Institute of Information and Communications Technology),Fukunaga Kaori(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 誘電体|屈折率|表面粗さ|テラヘルツ波|反射率|周波数特性|dielectric|refractive index|surface roughness|terahertz wave|reflectivity|frequency characteristics

要約(日本語): 誘電体の屈折率は誘電体表面の鏡面反射率から求められるが,粗い表面では散乱の影響のため,見かけ上の反射率は鏡面反射率と異なる。本研究では金属基板上に溶射されたセラミック製のコーティングを対象に,コーティングおよび参照金属板からの反射波の周波数特性に基づき鏡面反射率を算出し,屈折率を求めた。

要約(英語): The refractive index of a ceramic coating applied on a metal substrate was measured based on the frequency characteristics of the electromagnetic wave reflected from the coating and from a reference metal plate.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 513 Kバイト

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