Ｅ面またはＨ面内のみのアンテナパターン測定法の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM14023

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2014/06/13

タイトル(英語): A Method for Antenna Pattern Measurements Only on the E plane or H plane

著者名: 廣瀬 雅信(産業技術総合研究所),黒川 悟(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Masanobu Hirose(AIST),Satoru Kurokawa(AIST)

キーワード: Ｋｉｍ法|超近距離|Ｅ面パターン|Ｈ面パターン|大円上測定|Kim method|Ultra short distance|E plane pattern|H plane pattern|great circle measurement

要約(日本語): E面またはH面内のみの大円上の測定からその円周上のアンテナパターンを求めることが可能な新しい測定法であるKim法について理論的・実験的に検討してその有効性を実証する．

要約(英語): We will show the effectiveness of a new method, called as Kim method, from the standpoints of the theroy and experiments. Kim method can realize the E or H plane antenna pattern using the measuremnt on the plane only.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 903 Kバイト