電気光学プローブによる有機薄膜太陽電池の故障診断

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM14026

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2014/07/18

タイトル(英語): Failure Diagnosis of Organic Photovoltaic Using Electro-Optic Probe

著者名: 勝山 純(法政大学),松本 一輝(法政大学),杉山 凌(法政大学),長谷川 真也(法政大学),品川 満(法政大学),柳澤 幸樹(横河電機(株))

著者名(英語): Katsuyama Jun(Faculty of Science and Engineering,Hosei University),Matsumoto Kazuki(Faculty of Science and Engineering,Hosei University),Sugiyama Ryo(Faculty of Science and Engineering,Hosei University),Hasegawa Shinya(Faculty of Science and Engineering,Hosei University),Shinagawa Mitsuru(Faculty of Science and Engineering,Hosei University),Yanagisawa Yoshiki(Innovation Headquarters,Yokogawa Electric Corporation)

キーワード: 電気光学プローブ|有機薄膜太陽電池|故障診断|電界分布|電磁界解析|非接触計測|electro-optic probe|organic photovoltaic|failure diagnosis|electric field distribution|electromagnetic field simulation|noncontact measurement

要約(日本語): 有機薄膜太陽電池（OPV）上の電界分布を電気光学（EO）プローブで計測する実験を行い、発生電圧に相当する電界を計測した。また、OPVの構造を模擬したテストボードを作製し、3つの故障状態を想定してそれぞれについて計測と電磁界シミュレーションを行い、両者はよく一致していた。本稿では、EOプローブによりOPVの故障状態と故障箇所を特定できることを確認し、EOプローブがOPV故障診断に有用な計測ツールであることを示す。

要約(英語): This paper describes measurement of an organic photovoltaic using an electro-optic probe. Electric field distribution of the organic photovoltaic is discussed by measurement results of the test board using the electro-optic probe and simulation results of the test board using electromagnetic field simulator. We succeed in failure diagnosis of organic photovoltaic with three failure mode.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,399 Kバイト