テラヘルツ波に対する誘電体の実効反射率の表面粗さ依存性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: IM14029

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 計測研究会

発行日: 2014/07/18

タイトル(英語): Surface roughness dependence of the effective reflectivity of dielectric material for terahertz waves

著者名: 福地 哲生(電力中央研究所),布施 則一(電力中央研究所),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Fukuchi Tetsuo(Central Research Institute of Electric Power Industry),Fuse Norikazu(Central Research Institute of Electric Power Industry),Mizuno Maya(National Institute of Information and Communications Technology),Fukunaga Kaori(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: テラヘルツ波|誘電体|表面粗さ|反射率|散乱|周波数特性|terahertz wave|dielectric material|surface roughness|reflectivity|scattering|frequency characteristics

要約(日本語): テラヘルツ波に対する，表面粗さが異なる誘電体の実効反射率を測定した。測定結果から，時間領域または周波数領域で評価した実効反射率は表面粗さに対して減少すること，送受信系の視野角を制限することで散乱の影響を取り除き，鏡面反射率が得られることを示した。

要約(英語): The effective reflectivity of terahertz waves was measured for dielectric specimens with different surface roughness. The results showed that limiting the field of view is effective for eliminating the effects of scattering.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,080 Kバイト