電磁波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: LAV14007

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 光応用・視覚研究会

発行日: 2014/02/07

タイトル(英語): Measurement of refractive index of dielectric material with rough surface by reflection of electromagnetic waves

著者名: 福地 哲生(電力中央研究所),布施 則一(電力中央研究所),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Fukuchi Tetsuo(Central Research Institute of Electric Power Industry),Fuse Norikazu(Central Research Institute of Electric Power Industry),Mizuno Maya(National Institute of Information and Communications Technology),Fukunaga Kaori(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: 誘電体|屈折率|表面粗さ|電磁波|反射率|散乱|dielectric material|refractive index|surface roughness|electromagnetic wave|reflectivity|scattering

要約(日本語): 誘電体の屈折率は誘電体表面の鏡面反射率から求められるが，粗い表面では同時に発生する鏡面反射と散乱反射を分離する必要がある。本研究では電磁波の送受信の視野角を変えることで鏡面反射と散乱反射の割合を変え，最小・最大視野角へ外挿することで鏡面反射率と散乱反射率を求める方法を考案した。また，金属基板上に溶射されたセラミック製のコーティングを対象に検証実験を行い，手法の妥当性を確認した。

要約(英語): The refractive index of dielectric material with a rough surface was obtained by varying the proportion of specular and scattering reflectivites using different apertures for transmission and reception of electromagnetic waves, and extrapolating the reflectivity to minimum and maximum aperture. The method was verified using a ceramic coating sprayed on a metal substrate.

原稿種別: 日本語

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