150 kHzから300 MHzの低周波帯におけるEMI測定サイトの相関性の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: LAV16007

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 光応用・視覚研究会

発行日: 2016/02/18

タイトル(英語): Investigation on Correlation of Test Sites for EMI Measurement in the Lower Frequency Band of 150kHz to 300 MHz

著者名: 藤本 正克(山口県産業技術センター),古賀 文隆(福岡県工業技術センター),石松 賢治(熊本県産業技術センター),小田 誠(宮崎県工業技術センター),尾前 宏(鹿児島県工業技術センター),小林 宏明(香川県産業技術センター),山本 典央(滋賀県工業技術総合センター),村井 伸行(かがわ産業支援財団)

著者名(英語): Masakatsu Fujimoto(Yamaguchi Prefectural Industrial Technology Institute),Fumitaka Koga(Fukuoka Industrial Technology Center),Kenji Ishimatsu(Kumamoto Industrial Research Institute),Makoto Oda(Miyazaki Prefecture Industrial Technology Center),Hiroshi Onomae(Kagoshima Prefectural Institute of Industrial Technology),Hiroaki Kobayashi(Kagawa Prefectural Industrial Technology Center),Norio Yamamoto(Industrial Research Center of Shiga Prefecture),Nobuyuki Murai(Kagawa Industry Support Foundation)

要約(日本語): 低周波無線通信機器の普及が進む一方で、LED 照明など電磁ノイズを放射してしまう装置が増加している。そのため300MHz以下のEMI測定の要求が高まっており、多くのEMI測定サイトが構築されている。ところがEMI測定サイト間での相関性についての報告は少ない。そのため本報告では、市販品を用いた放射妨害や伝導妨害及び妨害電力測定結果を比較することでEMI測定サイトの相関性の検討を行ったので報告する。

要約(英語): While the low-frequency radio communication devices are wide-spreading, unintentional electromagnetic radiation from the electronic equipment such as LED lighting has been increasing. Therefore, the demand for EMI measurement in the lower frequency band of 150 kHz to 300 MHz is increasing. A number of test sites for EMI measurement has been constructed in Japan. However, there are few reports about the correlation and difference among test results conducted in these test sits. In this report, to examine the correlation among the test results conducted in some Japanese test sites, we compare the test results of radiation disturbance, conducted disturbance, and disturbance power measurements using a commercially available products.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,544 Kバイト