FPGAとDACを用いた30MHz以下のEMI試験装置点検用対数目盛コムジェネレータの開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: LAV16008

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 光応用・視覚研究会

発行日: 2016/02/18

タイトル(英語): Development of log-scale comb-generator for daily checking of EMI test system less than 30 MHz using FPGA and DAC

著者名: 飴谷 充隆(国立研究開発法人産業技術総合研究所),黒川 悟(国立研究開発法人産業技術総合研究所)

著者名(英語): Michitaka Ameya(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology),Satoru Kurokawa(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: コムジェネレータ|ＥＭＩ試験|ＦＰＧＡ|ＤＡＣ|対数目盛|comb-genrator|EMI test|FPGA|DAC|log-scale

要約(日本語): 無線充電装置や電磁調理器等の高周波利用装置の普及に伴って、30 MHz以下の電磁ノイズ源が増加しており、EMI試験の必要性が高まっている。本研究では、EMI試験装置の日常点検装置として利用可能な、対数目盛コムジェネレータを開発した。本装置はFPGAとDACを用いており、30 MHzまでの全帯域にわたり周波数特性がフラットで、対数周波数軸にほぼ等間隔なスペクトルを安定に出力できる。

要約(英語): In this paper, a log-scale comb-generator has been developed for daily checking of EMI test systems. The proposed comb-generator is composed of FPGA and DAC and can generate equally-spaced comb spectrum in log-scale. In addition, extremely-flat comb spectrum can be generated by the proposed comb-generator.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,799 Kバイト