インバータ―の入力電圧一定下におけるデッドタイムとキャリア周波数が鉄損に与える影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: LD14037

グループ名: 【D】産業応用部門 リニアドライブ研究会

発行日: 2014/07/04

タイトル(英語): Influence of Dead Time and Carrier Frequency on Iron Loss under Constant Input Voltage

著者名: 田中 陽大(豊田工業大学),小田原 峻也(豊田工業大学),藤崎 敬介(豊田工業大学)

著者名(英語): Tanaka Takahiro(Toyota Technological Institute),Odawara Shunya(Toyota Technological Institute),Fujisaki Keisuke(Toyota Technological Institute)

キーワード: デッドタイム|キャリア周波数|鉄損|窒化ガリウム|変調率|線形性|Dead Time|Carrier Frequency|Iron Loss|GaN|Modulatioin Factor|Linear

要約(日本語): 我々のGaN素子に関する研究は短いデッドタイムが鉄損を小さくすることやキャリア周波数が鉄損に与える影響を明らかにしてきた。デッドタイムを20～1000ns、キャリア周波数を10～200kHzの範囲で変化させてデッドタイムとキャリア周波数が鉄損に与える影響を調べた。結果、短いデッドタイムが低い鉄損を可能にすることとキャリア周波数-鉄損のグラフが下に凸なカーブを描くことを明らかにした。

要約(英語): Our research on GaN invertor revealed that shorter dead time makes smaller iron loss. This paper includes the result of our experiments which dead time ranging from 20 to 1000 ns and which career frequency ranging from 10kHz to 190kHz.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,926 Kバイト