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オンチップ磁性薄膜の特性評価用TEGチップの試作

オンチップ磁性薄膜の特性評価用TEGチップの試作

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG08097

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2008/07/31

タイトル(英語): A TEG chip for evaluation of on-chip magnetic thin-film

著者名: 増田 則夫(日本電気)

著者名(英語): Norio Masuda(NEC Corporation)

キーワード: 磁界|高周波電流|90nmプロセス|磁性薄膜|位相同期回路|電磁環境両立性|ディープウェル|評価用素子|集積回路|QFP|ループアンテナ|信号品質|電源配線|magnetic field|high-frequency current|90nm process|magnetic thin-film|phase-locked loop|electromagnetic compatibili

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,027 Kバイト

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