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誘導性ノイズ結合のオンチップ計測と磁性薄膜による対策法
誘導性ノイズ結合のオンチップ計測と磁性薄膜による対策法
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: MAG11101
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会
発行日: 2011/11/24
タイトル(英語): On-Chip Measurements of Inductive Noise Coupling and Its Countermeasure by Using Magnetic Film
著者名: 小舘 航(東北大学),遠藤 恭(東北大学),山口 正洋(東北大学)
著者名(英語): Kodate Wataru(Tohoku University),Endo Yasushi(Tohoku University),Yamaguchi Masahiro(Tohoku University)
要約(日本語): 高い透磁率を有する磁性薄膜はIC チップレベルにおける伝導ノイズ対策に有用である.これに加えて,磁性薄膜はIC チップレベルにおける誘導性ノイズ結合ノイズ対策にも有用と思われる.したがって,本論文ではその測定法をIEC 規格で定められたノイズ抑制シートの評価方法を参考に考案し,実測を通してその有用性を示し,その考察を行ったので報告する.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 10,374 Kバイト
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