フェライトめっき膜を内蔵する EBG構造の帯域阻止特性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG11102

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2011/11/24

タイトル(英語): Band elimination characteristics of EBG structure containing ferrite-plated films

著者名: 近藤 幸一(NECトーキン),吉田 栄吉(NECトーキン),豊田 啓孝(岡山大学)

著者名(英語): Kondo Koichi(NEC TOKIN Corporation),Yoshida Shigeyoshi(NEC TOKIN Corporation),Toyota Yoshitaka(Okayama University)

キーワード: ＥＢＧ構造|フェライトめっき膜|帯域阻止特性|EBG structure|ferrite-plated film|band elimination characteristics

要約(日本語): 厚さ6μmのNi-Znフェライトめっき膜を有する、大小の正方形（15 mm×15 mm、および1.5 mm×1.5 mm）からなる一次元格子状のEBGテストボードを作製した。フェライト膜により、EBG構造の伝搬阻止帯域が低域側にシフトし、高域側の通過域が消失した。これは、フェライト膜によりEBG構造を小型化できること、およびその伝搬阻止帯域を広帯域化できること、を示している。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 4,922 Kバイト