マイクロストリッププローブによる表皮効果を利用した薄膜透磁率計測

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG12066

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2012/06/22

タイトル(英語): Measurements of Broadband Permeability in Thin Film by Using Microstrip Line Probe

著者名: 薮上 信(東北学院大学),佐藤 彰(東北学院大学),小澤 哲也(東北学院大学),宮澤 安範(東栄科学産業),島田 寛(東北大学),宗像 誠(崇城大学),塩川 孝泰(東北学院大学)

著者名(英語): Yabukami Shin(Tohoku Gakuin University),Sato Akira(Tohoku Gakuin University),Ozawa Tetsuya(Tohoku Gakuin University),Miyazawa Yasunori(Toei Scientific Industrial Co.,Ltd.,),Shimada Yutaka(Tohoku University),Munakata Makoto(Sojo University),Shiokawa Takayasu(Tohoku Gakuin University)

キーワード: 磁性薄膜|透磁率計測|ミアンダプローブ|permeability|magnetic thin film|meander line type probe

要約(日本語): 　ミアンダ形プローブを試作して，周波数限界の要因を検討した．さらにインピーダンス整合が得られやすい直線マイクロストリップ線路を適用して広帯域化を検討した．これによりミアンダ形プローブにおける基板から垂直方向への伝送線路の結線に伴うインピーダンス不整合，およびミアンダパターンの曲がり角におけるインピーダンス不整合の影響を除去することを意図した．試作したミアンダ形プローブにより約15 GHzまでの評価，また直線マイクロストリップ形プローブを用いることで約17 GHzまでの広帯域評価が可能になったので報告する．

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 12,004 Kバイト