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直線マイクロストリッププローブによる薄膜透磁率計測
直線マイクロストリッププローブによる薄膜透磁率計測
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: MAG13079
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会
発行日: 2013/08/08
タイトル(英語): Permeability measurement of magnetic thin film by microstrip line
著者名: 木村 卓文(東北学院大学),薮上 信(東北学院大学),小澤 哲也(東北学院大学),宮澤 安範(東栄科学産業),劔重 博幸(東栄科学産業),島田 寛(東北大学)
著者名(英語): Kimura Takafumi(Tohoku Gakuin University),Yabukami Shin(Tohoku Gakuin University),Ozawa Tetsuya(Tohoku Gakuin University),Miyazawa Yasunori(Toei Scientific Industrial co.,ltd),Kenju Hiroyuki(Toei Scientific Industrial co.,ltd),Shimada Yutaka(Tohoku University)
要約(日本語): インピーダンス整合を考慮した直線マイクロストリッププローブを磁性薄膜に近接させることで非破壊に透磁率を計測した。これにより従来薄膜試料を特定の形状に切り取る必要がないことから、インラインの薄膜透磁率の計測に有用と考えられる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,550 Kバイト
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