キャリア周波数100kHzとデッドタイムが鉄損に及ぼす影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG13151

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2013/12/18

タイトル(英語): Effect of Carrier Frequency 100kHz and Dead Time on Iron Loss

著者名: 古賀 尚子(豊田工業大学),小田原 峻也(豊田工業大学),藤崎 敬介(豊田工業大学)

著者名(英語): Koga Shoko(Toyota Tecnological Institute),Odawara Shunya(Toyota Tecnological Institute),Fujisaki Keisuke(Toyota Tecnological Institute)

キーワード: ＧａＮ|鉄損|キャリア周波数|インバータ|デッドタイム|GaN |iron loss|carrier frequency|inverter|dead time

要約(日本語): GaNを用いた半導体素子は，その高速応答性から，インバータのスイッチング素子として用いることで，鉄損低減が期待されるため，今回，GaN素子を用いたインバータにより，キャリア周波数1～100kHzまでの鉄損を測定した。鉄損はキャリア周波数増加により，10～20kHzで最低値を取り，その後上昇する傾向が得られた。このとき，インバータにおけるデッドタイムで，鉄損が最低となるキャリア周波数が変動することが明らかになったので報告する。

要約(英語): To use GaN devices in inverter are expected from reduction of iron loss. Therefore, the iron loss with GaN-inverter is evaluated. When the carrier frequency becomes large, the iron loss is decreased to a certain value and increased after that. Moreover, the carrier frequency which makes iron loss the minimum changes due to dead time.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,412 Kバイト