∞コイルの低周波励磁による裏面欠損探傷に関する基礎リフトオフ特性
∞コイルの低周波励磁による裏面欠損探傷に関する基礎リフトオフ特性
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: MAG14160
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会
発行日: 2014/10/23
タイトル(英語): backside defect searching by the low frequency infinity coil excitation-basic liftoff characteristics-
著者名: 濱中 峻一(法政大学),齋藤 兆古(法政大学),大内 学(電子磁気工業),茂木 秀夫(電子磁気工業),及川 芳郎(電子磁気工業)
著者名(英語): hamanaka shunichi(graduate school of electronics engineering hosei university),saito yoshifuru(hosei university),ohuch manabu(denshijiki industry co,ltd),mogi hideo(denshijiki industry co,ltd),oikawa yoshiro(denshijiki industry co,ltd)
キーワード: 渦電流試験|非破壊検査|裏面欠損|低周波励磁|∞コイル|ECT|nondestructive testing|backside defect|low frequency excitation|∞coil
要約(日本語): 本研究は、∞コイルの低周波励磁による裏面欠損探傷に対するリフトオフ特性に関するものである。∞コイルはECTセンサーの一種で、NS極を形成する∞状コイルの中間に位置するゼロ磁界領域へ励磁磁界と並行方向へフェライト軸へ巻いたセンサコイルから成る。検査対象に欠損が有る場合、欠損に起因して生ずる渦電流がNS極間のゼロ磁界分布を乱さす。この乱す磁界をセンサーコイルで感知し、欠損を探査する原理に基づく。 既に∞コイルのECTセンサとしての性能は評価され、公表されている。本研究では。∞コイルを低周波励磁し、表皮浸透深さを深くして、検査対象裏面の欠損が探査可能かをシミュレーションと実験で検討した結果を述べる。
要約(英語): previously, we have proposed a ∞ coil as a high sensibility ECT sensor. This paper has evaluated a possibility of the backside defect searching by the low frequency ∞ coil excitation. As a result, it is found that the low frequency ∞ coil excitation promises its capability to detect the backside defect in the target materials.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,352 Kバイト
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