平面型∞コイルの低周波励磁による裏面欠損探傷に関する基礎リフトオフ特性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG15025

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2015/03/10

タイトル(英語): Backside defect searching by the low frequency excitation of a flat shape infinity ECT sensor coil -Basic liftoff characteristics study-

著者名: 濱中 峻一(法政大学院　理工学研究科　電気電子工学専攻),丸山 公希(法政大学院　理工学研究科　電気電子工学専攻),齋藤 兆古(法政大学),大内 学(電子磁気工業),児島 隆治(電子磁気工業)

著者名(英語): shunichi hamanaka(Graduate School of Electrical and Electronics Engineering hosei university),kouki maruyama(Graduate School of Electrical and Electronics Engineering hosei university),yoshifuru saito(hosei university),manabu ohuch(Denshijiki Industry Co,Ltd),takaharu kojima(Denshijiki Industry Co,Ltd)

キーワード: 渦電流試験|非破壊検査|裏面欠損|低周波励磁|∞コイル|ECT|Nondestructive testing|backside defect|low frequency excitation|∞coil

要約(日本語): 本研究は、平面型∞コイルの低周波励磁による裏面欠損探傷で、主として基礎的なリフトオフ特性に関するものである。従来のECTセンサが出力信号の大きさの変化で欠損を探知するのに対して、欠損の存在に起因する磁界の有無を感知する。本稿では、平面型∞コイルを用いた裏面欠損探査で、主として被検査対象とセンサ間の距離、すなわち、リフトオフ特性の定性的な傾向を吟味する。

要約(英語): Previously, we have proposed a ∞ coil as a high sensibility ECT sensor. This paper has evaluated a possibility of the backside defect searching by the low frequency excitation of a flat shape ∞ coil. As a result, it is found that the low frequency excitation of a ∞ coil promises its capability to detect the backside defect in the target materials.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,374 Kバイト