磁性薄膜における新規磁化ダイナミクス計測法の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MAG18091

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 マグネティックス研究会

発行日: 2018/08/10

タイトル(英語): Development of measurement technique for magnetization dynamics of magnetic thin film

著者名: 遠藤 恭(東北大学),森 修(東栄科学産業),島田 寛(東栄科学産業),薮上 信(東北大学),佐藤 茂行(東栄科学産業),内海 良一(東栄科学産業)

著者名(英語): Yasushi Endo(Tohoku University),Osamau Mori(Toei Scientific Industrical Co. Ltd),Yutaka Shimada(Toei Scientific Inductrial Co. Ltd),Shin Yabukami(Tohoku University),Shigeyuki Sato(Toei Scientific Industrial Co. Ltd),Ryoichi Utsumi(Toei Scientific Industrial Co. Ltd)

キーワード: 磁化ダイナミクス計測|ダンピング定数|飽和磁気ひずみ|磁性薄膜|Magnetization dynamics measurement|Damping constant|Saturation magnetostriction|Magnetic thin film

要約(日本語): 磁性薄膜の磁化ダイナミクスの研究は，磁気物性だけでなく磁気デバイス応用においても重要である．この磁化ダイナミクスを把握する上でダンピング定数（α）は主要なパラメータのひとつである．我々はこれまでにNi-Fe膜のαが飽和磁気ひずみと関係が深いことを明確にしてきた．これらのパラメータの関連性をより詳細に検討するためには，一つの試料を用いて同時にこれらのパラメータを評価することが重要である．本研究では，高周波伝送線路型信号検出プローブをFe系二元系合金薄膜に近接させ，強磁性共鳴周波数の応力負荷の有無による変化を計測し，飽和磁気ひずみとダンピング定数を評価した結果について報告する

要約(英語): We proposed a new measurement technique, which employs a microstripe line probe to detect ferromagnetic resonance spectra for a Fe-M　binary alloy thin film either with tensile stress or stress free, which enables simultaneous evaluation of damping constant and saturation magnetostriction.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 664 Kバイト