HTS薄膜の表面抵抗と磁場・膜厚の相関に関する研究

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MC10007

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 金属・セラミックス研究会

発行日: 2010/10/31

タイトル(英語): The Relationship Between the Surface Resistance and External DC Magnetic Field and Thickness in the HTS Thin Films

著者名: 本間 拓也(山形大学),中川 和哉(山形大学),齊藤 敦(山形大学),大嶋 重利(山形大学)

著者名(英語): Takuya Honma(Yamagata University),Kazuya Nakagawa(Yamagata University),Atsushi Saito(Yamagata University),Shigetoshi Ohshima(Yamagata University)

キーワード: 表面抵抗|ＹＢＣＯ|薄膜|マイクロ波|磁場特性|温度特性|surface resistance|YBCO|thin films|microwave|magnetic field dependence|temperature dependence

要約(日本語): HTS薄膜の表面抵抗の温度特性や磁場特性を評価することは、高性能なマイクロ波デバイスの開発に必要である。我々は様々な膜厚のYBCO薄膜の表面抵抗(Rs)の温度特性及び磁場特性を調査した。YBCO薄膜の膜厚は100, 200, 300 nmである。YBCO薄膜のRsは磁場を印加するとほぼ磁場に比例して増加した。またRs増加率(Rs (5 T)/ Rs (0 T))は膜厚と相関があることがわかった。

要約(英語): It is very important to evaluate dc magnetic field and temperature dependences of the surface resistance of HTS thin films for the development of the high-performance microwave devices. We investigated the dc magnetic field and temperature dependences of the microwave surface resistance (Rs) of YBa2Cu3Oy (YBCO) superconducting thin films with various thicknesses.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 872 Kバイト