走査型Hall素子磁気顕微鏡によるTFA-MOD法YBCO線材の臨界電流分布評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MC10011

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 金属・セラミックス研究会

発行日: 2010/10/31

タイトル(英語): Distribution of critical current in TFA-MOD processed YBCO coated conductors by scanning Hall probe microscopy

著者名: 塩原 敬(九州大学)

著者名(英語): Kei Shiohara(kyushu University)

キーワード: 超電導材料評価法|臨界電流分布|走査型Ｈａｌｌ素子磁気顕微鏡|ＴＦＡ－ＭＯＤ法|超電導線材|characterization of superconducting materials|visualization of critical current distribution|scanning Hall-probe microscopy|TFA-MOD process|superconducting coated conductor

要約(日本語): 本研究では、希土類系高温超電導線材の高性能化を目的に、従来の評価手法では十分に確立されていないテープ面内の臨界電流の2次元分布の評価について、走査型Hall素子磁気顕微法の適用可能性を検討した。TFA-MOD法により作製されたYBCO超電導線材を用いて、線材内の磁束分布より遮蔽電流を評価することにより、臨界電流の2次元分布を非接触、且つ、優れた分解能で定量的に評価できることを明らかとした。

要約(英語): We have carried out 2-dimensional (2D) measurement of local critical current in TFA-MOD processed YBCO coated conductors using scanning Hall-probe microscopy. According to our measurements, 2D distribution of local critical currents could be obtained for the coated conductor with a practical scale with a spatial resolution of less than 100 μm, and this kind of information indicates that the location of some defect in the conductor.

原稿種別: 日本語

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