エポキシ含浸によるYBCOダブルパンケーキコイルの特性劣化

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MC10014

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 金属・セラミックス研究会

発行日: 2010/10/31

タイトル(英語): Degradation of the performance of a YBCO-coated conductor double pancake coil due to epoxy impregnation

著者名: 竹松 卓也(上智大学),胡 瑞(上智大学),高尾 智明(上智大学),柳澤 吉紀(千葉大学),奥山 絵里加(千葉大学),中込 秀樹(千葉大学),木吉 司(物質・材料研究機構),ウリエッティ ダビデ(Paul Scherrer Institut),高橋 雅人(理化学研究所),前田 秀明(理化学研究所)

著者名(英語): Takematsu Takuya(Sophia University),Hu Ruxin(Sophia University),Takao Tomoaki(Sophia University),Yanagisawa Yoshinori(Chiba University),Okuyama Erika(Chiba University),Nakagome Hideki(Chiba University),Kiyoshi Tsukasa(National Institute for Materials Science),Uglietti Davide(Paul Scherrer Institut),Takahashi Masato(RIKEN),Maeda Hideaki(RIKEN)

キーワード: ＹＢＣＯコイル|エポキシ含浸|劣化|横方向引張応力|剥離|パラフィン|YBCO coil|epoxy impregnation|degradation|radial tensile stress|delamination|paraffin

要約(日本語): 非含浸・エポキシ含浸の小型ダブルパンケーキコイルを製作し77Kで通電試験を行った。非含浸の場合、短尺特性（45A）で常伝導電圧が生じたのに対し、含浸コイルでは8Aで常伝導が生じコイル特性劣化が確認された。コイルを巻き戻したところ、特性劣化ターンで線材の剥離が確認できた。剥離はバッファ層-超伝導層間で生じている。構造解析により、剥離はエポキシ硬化と冷却時の径方向引っ張り応力で生じることが明らかになった。

要約(英語): We demonstrate degradation in coil performance due to epoxy impregnation for an YBCO double pancake coil. The degradation results from delamination of YBCO tape due to excessive radial stress caused by cure shrinkage of epoxy resin and thermal contraction during cool down; the interpretation is confirmed by a stress analysis.

原稿種別: 日本語

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