1
/
の
1
超臨界流体を用いたSiO2製膜の開発
超臨界流体を用いたSiO2製膜の開発
通常価格
¥330 JPY
通常価格
セール価格
¥330 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: MSS09011
グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 マイクロマシン・センサシステム研究会
発行日: 2009/07/23
タイトル(英語): Development of SiO2 deposition process using supercritical fluid
著者名: 山田 英雄(BEANS研究所),百瀬 健(東京大学),浅海 一志(デンソー),川原 伸章(デンソー),杉山 正和(東京大学),霜垣 幸浩(東京大学)
著者名(英語): Hideo Yamada(BEANS Laboratory),Takeshi Momose(The University of Tokyo),Kazushi Asami(DENSO CORPORATION),Nobuaki Kawahara(DENSO CORPORATION),Masakazu Sugiyama(The University of Tokyo),Yukihiro Shimogaki(The University of Tokyo)
キーワード: 超臨界流体|SiO2製膜|TEOS|高アスペクト比|埋め込み技術|supercritical fluid|SiO2 deposition|TEOS|high aspect ratio|gap filling technique
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 735 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
