高速応答Ｘ線厚み計の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: MZK18005

グループ名: 【D】産業応用部門 ものづくり研究会

発行日: 2018/03/23

タイトル(英語): Development of High-Speed X-ray thickness gauge

著者名: 米川 栄(東芝インフラシステムズ株式会社),小原 哲(東芝インフラシステムズ株式会社),賀川 武(東芝インフラシステムズ株式会社),海野 哲生(東芝インフラシステムズ株式会社)

著者名(英語): SAKAE YONEKAWA(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),SATOSHI OBARA(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),TAKESHI KAGAWA(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),TETSUO UMINO(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation)

キーワード: Ｘ線厚み計|高速応答|リアルタイムイーサネット|X-ray thickness gauge|High speed response|Real-time Ethernet

要約(日本語): X線厚み計は非接触でリアルタイムに鋼板厚さを測定し、圧延ラインにおける板厚制御、品質保証のため不可欠な装置である。圧延ラインの制御速度は年々高速化し、これに伴いX線厚み計には高速で計測し測定値を出力することが求められている。そこで、板厚演算周期1ms、機器間データ伝送周期1msを実現する高速応答X線厚み計を開発した。機器間のデータ伝送にRTE（Real-Time Ethernet）を採用し、伝送を高速化させ、板厚演算周期の高速化を実現した。

要約(英語): We developed the high-speed type X-ray thickness gauge TOSGAGE-HS which has 1 ms calculation period time and 1 ms data transmission cycle time between sensing device and calculation device.Then we adopted RTE (Real-Time Ethernet) to TOSGAGE-HS on its data transmission among devices, which realized high speed transmission.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 486 Kバイト