MeV領域のマイクロイオンビームを用いた微量元素イメージング

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: OQD08035

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　光・量子デバイス研究会

発行日: 2008/05/07

タイトル(英語): Imaging of trace element using MeV micro-ion-beam

著者名: 柴田 裕実(京都大学)

著者名(英語): Hiromi Shibata(Kyoto University)

キーワード: MeVイオンビーム|マイクロビーム|イメージング|微量元素|元素分析|ERDA|NRA|RBS|PIXE|SIMS|AMS|MeV ion-beam|micro-beam|imaging|trace element|element analysis|ERDA|NRA|RBS|PIXE|SIMS|AMS

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 754 Kバイト