GaInAsP埋込型レーザのエージングとESD耐性との関係

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: OQD08060

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　光・量子デバイス研究会

発行日: 2008/12/11

タイトル(英語): Relationship between aging test and ESD-tolerance of GaInAsP buried heterostructure laser diodes

著者名: 市川 弘之(住友電気工業),浜田 耕太郎(住友電気工業),山口 章(住友電気工業),中林 隆志(住友電気工業)

著者名(英語): Hiroyuki Ichikawa(Sumitomo Electric Industries,Ltd.),Kotaro Hamada(Sumitomo Electric Industries,Ltd.),Akira Yamaguchi(Sumitomo Electric Industries,Ltd.),Takashi Nakabayashi(Sumitomo Electric Industries,Ltd.)

キーワード: GaInAsP|LD|ESD|COD|端面コーティング|エージング|GaInAsP|LD|ESD|COD|facet coating|aging

要約(日本語): 光通信用GaInAsP埋込型レーザについて、信頼性面で重要な指標の1 つであるESD耐性とエージングとの関係を調査した。ESD試験による劣化機構は既に議論されているが、エージングとの関係はこれまで分かっておらず、今回我々は特に逆方向の極性に注目して調査した。そして、光が関与しない劣化ながら、エージングに伴いESD耐性が低下する事実を確認した。このESD耐性の低下はエージングによる端面欠陥増加が原因と考えられ、端面コーティングを施すことで、ESD耐性低下を軽減できることが分かった。

要約(英語): The electrostatic discharge (ESD) induced degradation is one of the important reliability issues of GaInAsP buried heterostructure laser diodes. Although the degradation mechanism has been discussed, relationship between ESD-tolerance and aging test has n

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 673 Kバイト