固体最表面の誘電特性の測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: OQD10008

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 光・量子デバイス研究会

発行日: 2010/02/22

タイトル(英語): Measurement of dieletricity of the solid-state surface

著者名: 石井 真史((独)物質・材料研究機構)

著者名(英語): Ishii Masashi(The Institute for Materials Science)

キーワード: 表面誘電特性|非破壊|誘電緩和|表面高分子鎖|Surface dieletricity|non-destructive|dielectric relaxation|surface polymer chain

要約(日本語): 誘電率は物質の基礎物性として古くから詳細に調べられている。誘電率は一般にバルクの値を指すが、低次元構造が重要な今、表面を定量化する値として捉え直そうというのが本研究の目的である。従来の固体の誘電特性の測定では、密着電極で表面を無くしてきた。本研究では、電極―試料間に液体を満たし、表面を崩さずに誘電特性を測定する。装置構成及び液体を接触させることで見える高分子等の試料表面の誘電特性を紹介する。

要約(英語): In this study, we reconsider the dielectric constant as a parameter characterizing solid-state surfaces. In conventional dielectric measurements, contact of electrodes destroyed the surface. Recently, we developed a non-destructive measurement by using liquid filling between the electrode and surface. We introduce the experimental setup and discuss the surface dielectricity of polymers.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 5,142 Kバイト