638nmブロードストライプ半導体レーザの信頼性

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: OQD13029

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 光・量子デバイス研究会

発行日: 2013/06/20

タイトル(英語): Reliability study on high power 638 nm broad stripe LD

著者名: 満山 弘(三菱電機),元田 隆(三菱電機),西田 武弘(三菱電機),門岩 薫(三菱電機),八木 哲哉(三菱電機)

著者名(英語): Hiroshi Mitsuyama(Mitsubishi Electric Corporation),Takashi Motoda(Mitsubishi Electric Corporation),Takehiro Nishida(Mitsubishi Electric Corporation),Kaoru Kadoiwa(Mitsubishi Electric Corporation),Tetsuya Yagi(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: 赤色|半導体レーザ|窓構造|瞬時光学端面破壊|平均故障時間|red|laser diode|window-mirror structure|COD|MTTF

要約(日本語): COD（瞬時光学端面破壊）対策として端面窓構造を有する638nmブロードストライプ半導体レーザの信頼性について調査したところ、高光密度での動作時にはCOD劣化が生じること、COD劣化による平均故障時間（MTTF)は光密度の-3.2乗に比例することがわかった。

要約(英語): Reliability of high power 638 nm broad stripe LD was studied. Though the LD has a window-mirror structure as a measure to catastrophic optical degradation (COD), it shows the degradation at high optical density operation. The results unveiled that mean time to failure due to COD is proportional to optical density to the power of -3.2.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 465 Kバイト