超格子層変化材料を用いたテラヘルツ波検出
超格子層変化材料を用いたテラヘルツ波検出
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: OQD16076
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 光・量子デバイス研究会
発行日: 2016/09/20
タイトル(英語): THz wave detection by multi-layered phase change memory materials
著者名: 牧野 孝太郎(産業技術総合研究所)
著者名(英語): Kotaro Makino(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)
キーワード: 相変化材料|テラヘルツ波|トポロジカル絶縁体|ディラックコーン|Phase change material|Terahertz wave|Topological insulator|Dirac cone
要約(日本語): Ge-Sb-Te超格子材料は優れた特性を示し、次世代の相変化メモリ応用を目指して開発された。近年の研究によりこの材料がトポロジカル絶縁体としての特性を持ち合わせることが明らかとなった。トポロジカル絶縁体はスピンヘリカル状態にあるディラックコーンと称される特殊な電子構造を持ち、エネルギーが小さいテラヘルツ波への応答が期待される。本研究では光検出器を作製し、テラヘルツ波検出の可能性を実証した。
要約(英語): Ge-Sb-Te multi-layered phase change memory materials were originally developed for the next-generation phase change memory technology. Due to the multi-layered structure, these materials can be topological insulator which possess spin helical Dirac cones and hence can be used for terahertz applications. We report THz detection with optical detector devices.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,138 Kバイト
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