伝導性EMIの伝搬方向を判定可能な周波数解析装置の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PE14023,PSE14023,SPC14058

グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 電力技術/【B】電力・エネルギー部門 電力系統技術/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会

発行日: 2014/03/06

タイトル(英語): Development of a Frequency-Analysis Equipment Capable of Judging Propagation Direction of Conductive EMI

著者名: 野坂 紀元(北海道大学),小笠原 悟司(北海道大学),竹本 真紹(北海道大学)

著者名(英語): Noriyuki Nosaka(Hokkaido University),Satoshi Ogasawara(Hokkaido University),Masatsugu Takemoto(Hokkaido University)

キーワード: ＦＰＧＡ|伝導性ＥＭＩ|高速サンプリング|ＤＳＰ　Ｂｕｉｌｄｅｒ|周波数解析装置|FPGA|conductive EMI|high-speed sampling|DSP Builder|Frequency-Analysis Equipment

要約(日本語): パワーエレクトロニクス(PE)機器は，パワー半導体デバイスのスイッチング動作に起因して，電磁障害(EMI)を発生することがある。多数のPE機器を接続したシステムでEMIが発生した場合には，その原因機器を特定することは容易ではない。本論文では，高速サンプリングと高速信号処理技術をFPGAに適用して，伝導性EMI(150kHz～30MHz)の伝搬方向を判定可能な周波数解析装置を開発し，実験によりその妥当性・有用性を確認する。

要約(英語): Power electronics (PE) apparatus may generate electromagnetic interference (EMI) originated from switching operation of power semiconductor devices. When EMI occurs in a system including many PE apparatuses, it is not easy to specify the cause apparatus. In this paper, applying the high-speed sampling and signal-processing technologies into an FPGA, the frequency-analysis equipment, which can judge the propagation direction of conductive EMI (150 kHz - 30 MHz), is developed, and its validity and usefulness are confirmed experimentally.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,550 Kバイト