Bi系酸化物超伝導体（Bi-Sr-Ca-Cu-O）超伝導のMOCVD法による薄膜化及び評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PHS10024

グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 フィジカルセンサ研究会

発行日: 2010/06/17

タイトル(英語): characteristic of BSCCO high-temperature superconducting thin films prepared by MOCVD

著者名: 呉 建寧(東京工科大学),毛塚 博史(東京工科大学),有沢 俊一(物質・材料研究機構),遠藤 和弘(金沢工業大学),菊地 悠太(東京工科大学)

著者名(英語): Wu Jianning(Tokyo University of Technology),Kezuka Hiroshi(Tokyo University of Technology),Arisawa Shunichi( National Institute for Materials Science),Endo Kazuhiro(Kanazawa Institute of Technology),Kikuchi Yuta(Tokyo University of Technology)

キーワード: Ｂｉ系酸化物|超伝導薄膜|有機金属化学気相成長法|Ｘ線回折法|超伝導量子干渉計|臨界温度|BSCCO|superconducting thin film|MOCVD|XRD|SQUID|Tc

要約(日本語): 今回、有機金属化学気相成長MOCVD法を用いてBi系酸化物超伝導体薄膜を作製し、X線回折法とSQUIDを用いて、超伝導体特性の評価を目的とする。基板温度が800℃程度で、薄膜の組成比が2：2：2：3になるように原料の温度を制御して、原料を供給する条件を確立し、超伝導相の2223相を含む薄膜作製ができた。さらに、SQUID（超伝導量子干渉計）によって、超伝導薄膜の磁化率を測定することで、臨界温度Tc を６５K~７５Kであると推定できる。

要約(英語): BSCCO（Bi-Sr-Ca-Cu-O） thin films were prepared on (001)SrTiO3 substrates by MOCVD. The obtained films were evaluated with X-ray diffraction (XRD)and SQUID measurements. All peaks in XRD pattern are indexed as (00n) BSCCO, which shows the superconducting 2223- and 2212-phase . The abrupt drop in the temperature dependence of resistivity are observed , which seems to be resulting from a stacking fault or a mixture of Bi-2223 and Bi-2212. SQUID measurement revealed that magnetic susceptibility is negative less than around 75K.

原稿種別: 日本語

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