Evolution from a-axis to c-axis orientation in YBa2Cu3O7 thin films on (001)SrTiO3 grown by rf sputtering vs. growth temperature, post-annealing or two-temperatures template growth
Evolution from a-axis to c-axis orientation in YBa2Cu3O7 thin films on (001)SrTiO3 grown by rf sputtering vs. growth temperature, post-annealing or two-temperatures template growth
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: PHS10027
グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 フィジカルセンサ研究会
発行日: 2010/06/17
タイトル(英語): Evolution from a-axis to c-axis orientation in YBa2Cu3O7 thin films on (001)SrTiO3 grown by rf sputtering vs. growth temperature, post-annealing or two-temperatures template growth
著者名: Tahan Ayman(マインツ大学),Badica Petre(国立材料物理研究所),Jakob Gerhard(マインツ大学)
著者名(英語): Eltahan Ayman(Mainz University),Badica Petre(National Institute of Materials Physics),Jakob Gerhard(Mainz University)
キーワード: a軸|c軸|YBa2Cu3O7|超伝導体|薄膜|a-axis|c-axis|YBa2Cu3O7|superconductor|thin film
要約(日本語): a軸配向YBCO膜中のc軸配向の不純物相を高温でポストアニールにより取除いた。
要約(英語): Thin films of (100)YBa2Cu3O7 were grown at different temperatures (610-780C) on (001)SrTiO3 single crystal substrates.Optimum growth temperature is around 630-650°C.A post annealing at higher temperatures of 800-810C in a controlled atmosphere of oxygen results in significant removal of the residual c-axis orientation.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 811 Kバイト
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