衝撃圧縮によるBi系酸化物超伝導体の作製およびX線回折による評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PHS13022

グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 フィジカルセンサ研究会

発行日: 2013/08/08

タイトル(英語): Grain structures evaluation by X-ray diffraction of shocked oxide Bi-superconductors

著者名: 中村 峰大(東京工科大学),富岡 成矢(東京工科大学),亀谷 崇樹(東京工科大学),毛塚 博史(東京工科大学),liliang chen(熊本大学),真下 茂(熊本大学),有沢 俊一(物質・材料研究機構)

著者名(英語): nakamura takahiro(Tokyo University of Technology),tomioka shigeya(Tokyo University of Technology),kameya takaki(Tokyo University of Technology),kezuka hiroshi(Tokyo University of Technology),liliang chen(kumamoto University),mashimo tsutomu(kumamoto University),arisawa shuniti( National Institute for Materials Science)

キーワード: 超伝導|衝撃圧縮|ＢＳＣＣＯ|superconductor|shock compaction|BSCCO

要約(日本語): 高感度な磁気センサ等への応用を視野に入れ、Bi系酸化物(BSCCO)超伝導体を、衝撃圧縮法を用いて作製している。よりBi-2223相が支配的で高品質な超伝導体の作製を目指し、出発原料を乾式ジェットミルにより微細化し、30GPaという超高圧で衝撃圧縮を行い、その後アニール処理を0~72時間行った。作製した試料のX線回折による評価結果を報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 942 Kバイト