ディジタルリレーの劣化予測
ディジタルリレーの劣化予測
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: PPR11016
グループ名: 【B】電力・エネルギー部門 保護リレ-システム研究会
発行日: 2011/03/04
タイトル(英語): Deterioration estimation of digital relays
著者名: 亀田 秀之(電力中央研究所),久保 達也(四国電力),秋山 昭二(四国電力),岡倉 稔(関西電力),山田 員己(関西電力),西山 明文(中国電力),税所 真前(九州電力),室井 保法(電源開発)
著者名(英語): Kameda Hideyuki(Central Institute of Electric Power Industry),Kubo Tatsuya(Shikoku EPCo.),Akiyama shoji(Shikoku EPCo.),Okakura Minoru(Kansai EPCo.),Yamada Kazumi(Kansai EPCo.),Nishiyama Akifumi(Chugoku EPCo.),Saisyo Masaki(Kyusyu EPCo.),Muroi Yasunori(Electric Power Development Co.)
キーワード: 保護リレー信頼度解析システム|ワイブル分布|平均故障間隔|第一世代ディジタルリレー|第二世代ディジタルリレー|Reliability Anlysis System for Protection Relays|Weibull dstribution|Mean time between failure|1st generation digital relays|2nd generation digital relays
要約(日本語): 当所既開発の保護リレー信頼度解析システム(RASPR)に蓄積されたデータにワイブル分布を適用し,第一世代あるいは第二世代ディジタルリレーの劣化振興状況を明らかにする。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 483 Kバイト
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