TOF質量分析装置を用いた分子性ガスのイオン化断面積の測定と残留農薬分析への応用

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PPT10103

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 パルスパワー研究会

発行日: 2010/12/16

タイトル(英語): Application of TOF mass spectrometry to ionization cross-section measurements for molecular gases and to pesticide residue analysis

著者名: 林 久生(茨城大学),前田 教行(茨城大学),宇都木 秀晃(茨城大学),池畑 隆(茨城大学),佐藤 直幸(茨城大学)

著者名(英語): Hisao Hayashi(Ibaraki University),Noriyuki Maeda(Ibaraki University),Hideaki Utsugi(Ibaraki University),Takashi Ikehata(Ibaraki University),Naoyuki Sato(Ibaraki University)

キーワード: 電子イオン化|解離性イオン化|イオン化断面積|飛行時間質量分析|残留農薬分析|electron impact ionization|dissociative ionization|ionization cross-section|time-of-flight mass spectrometry|pesticide residue analysis

要約(日本語): TOF質量分析装置は極微量な化学物質の分析に多用されているが、プラズマ中の電子衝突による分子イオン化過程を確認するのにも有用な装置である。そこで、本装置とエネルギー可変の電子イオン化により、O2等の分子性ガスのイオン化断面積の測定を行い、文献値との比較検討を行った。また、筆者らは、本来、残留農薬の迅速測定を目指した装置の開発研究を行っているため、農薬試料の高感度測定の結果についても報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 875 Kバイト