粒子線励起X線放出分析のためのポリプロピレン薄膜の大気圧プラズマジェットによる濡れ性の向上

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PPT11098

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 パルスパワー研究会

発行日: 2011/12/16

タイトル(英語): Wettability Improvement on Polypropylene Thin Film by using Atmospheric Plasma Jet for Particle Induced X-ray Emission Analysis

著者名: 福田 剛久(長岡技術科学大学),藤田 基(国立病院機構　新潟病院),長谷川 純(東京工業大学),小栗 慶之(東京工業大学),鈴木 常生(長岡技術科学大学),末松 久幸(長岡技術科学大学),佐々木 徹(長岡技術科学大学),菊池 崇志(長岡技術科学大学),原田 信弘(長岡技術科学大学)

著者名(英語): Fukuda Takehisa(Nagaoka University of Technology),Fujita Motoi(Niigata National Hospital,National Hospital Organization),Hasegawa Jun(Tokyo Institute of Technology),Oguri Yoshiyuki(Tokyo Institute of Technology),Suzuki Tsuneo(Nagaoka University of Technology),Suematsu Hisayuki(Nagaoka University of Technology),Sasaki Toru(Nagaoka University of Technology),Kikuchi Takashi(Nagaoka University of Technology),HARADA Nob(Nagaoka University of Technology)

キーワード: 大気圧プラズマジェット|粒子線励起Ｘ線放出分析|ポリプロピレン薄膜|表面処理|濡れ性|Atmospheric Plasma Jet|Particle Induced X-ray Emission Analysis|Polypropylene Thin Film|Surface treatment|Wettability

要約(日本語): 粒子線励起X線放出（PIXE）分析により血液などの液体試料を評価するため，支持台として用いるポリプロピレン薄膜（PP膜）に大気圧プラズマジェットを照射し，表面処理効果を検討した．表面処理の効果を観察するため，濡れ性の放置時間依存性を測定した結果，大気圧下で保管した状態で約2日間の向上した濡れ性の持続を確認した．PIXE分析によりプラズマジェットで処理したPP膜を評価した結果，微量元素分析に適用できることを確認した．

要約(英語): To analyze liquid samples by particle induced X-ray emission (PIXE), a polypropylene thin film used as support board was treated by irradiating atmospheric plasma jet. The effect of surface treatment was evaluated by the wettability of the film. The improved wettability was sustained during two days in atmospheric condition. The film treated by plasma jet was measured by PIXE analysis. As a result, it is found that the treated film is applicable to elemental microanalysis.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,126 Kバイト