ナノ秒パルス放電によるNO除去効率のパルス幅依存性
ナノ秒パルス放電によるNO除去効率のパルス幅依存性
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: PPT14005
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 パルスパワー研究会
発行日: 2014/01/07
タイトル(英語): Influence of pulse width on NO removal by nano-seconds pulsed voltage.
著者名: 角田 貴俊(岩手大学),高木 浩一(岩手大学),八木 一平(東京大学)
著者名(英語): Kakuta Takatoshi(Iwate University),Takaki Koichi(Iwate University),Yagi Ippei(The University of Tokyo)
キーワード: パルスパワー|ナノ秒パルス|高速リカバリーダイオード|アレスタ|NO除去|pulsed power|nano-seconds pulsed high voltage|fast recovery diode|arrester|NO removal
要約(日本語): 高速リカバリーダイオードを使用したナノ秒パルス電源を作製し,パルス幅を制御した際のNO除去率・NO除去効率に及ぼす影響を評価した。アレスタを使用することで,パルス幅の制御に成功した。その結果,放電電流の持続時間が182 nsから 11.2 nsまで短縮した。NO除去率が約30%のとき,NO除去効率が4.4倍になり,NO除去効率の改善に成功した。
要約(英語): An influence of pulse width of applied voltage on NO removal efficiency is investigated experimentally. The pulse width is shorten by connecting arresters in parallel to the reactor. NO removal efficiency is improved from 8.2 to 35.7g/kWh by shortening the duration time of output current from 182 ns to 11.2 ns.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 867 Kバイト
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