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アノード分極法によるDLC 膜のピンホール欠陥評価
アノード分極法によるDLC 膜のピンホール欠陥評価
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: PST05033
発行日: 2005/03/04
タイトル(英語): Measurement of Pinhole Defect of DLC Film by Anodic Polarization Method
著者名: 立岩 淳一 内田 仁 八束 充保(兵庫県立大学)
著者名(英語): Junichi Tateiwa Hitoshi Uchida Mitsuyasu Yatsuzuka(University of Hyogo)()
キーワード: プラズマイオン注入成膜法,DLC,耐食性,アノード分極法,CPCD 法
要約(英語): 【A】基礎・材料・共通部門 プラズマ研究会
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,060 Kバイト
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