荷電粒子ビームのバンチング特性評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: PST10068

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 プラズマ研究会

発行日: 2010/12/16

タイトル(英語): Characterization of Bunching Process of Charged Particle Beams

著者名: 宮崎 圭史(東京工業大学),中山 啓(東京工業大学),菊池 崇志(長岡技術科学大学),中島 充夫(東京工業大学),堀岡 一彦(東京工業大学)

著者名(英語): Miyazaki Yoshihumi(Tokyo Institute of Technology),Nakayama Akira(Tokyo Institute of Technology),Kikuchi Takashi(Nagaoka University of Technology),Nakajima Mitsuo(Tokyo Institute of Technology),Horioka Kazuhiko(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: バンチング|誘導加速器|荷電粒子ビーム|ビーム物理|パルス圧縮|エミッタンス|Bunching|Induction Modulator|Charged Particle Beams|Beam Physics|Pulse Compression|Emittance

要約(日本語): 誘導電圧重畳型モジュレータを用いて、荷電粒子ビームのパルス圧縮（バンチング）過程を調べた結果を報告する。ビームパルスの圧縮率に対する、初期温度、モジュレーション電圧波形精度、および空間電荷効果の依存性について検討する。

要約(英語): We discuss bunching process of charged particle beams using a device consits of electron gun, FET-driven induction voltage modulator, and solenoidal transport line. The compression factor is discussed as a function of the beam temperature, the modulation waveform, and the transport distance.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 906 Kバイト