真空中における小型孔開き電極の絶縁破壊電界及び電界増倍係数の孔数依存性

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2014/12/01

タイトル(英語): Dependence of Vacuum Electrical Breakdown Field and Field Enhancement Factor on the Number of Apertures Drilled in Small Electrodes

著者名: 石田　諒（埼玉大学大学院 理工学研究科），山納　康（埼玉大学大学院 理工学研究科），小林　信一（埼玉大学大学院 理工学研究科），小島　有志（日本原子力研究開発機構），花田　磨砂也（日本原子力研究開発機構），齊藤　芳男（高エネルギー加速器研究機構）

著者名(英語): Ryo Ishida (Saitama University), Yasushi Yamano (Saitama University), Shinichi Kobayashi (Saitama University), Atsushi Kojima (Japan Atomic Energy Agency), Masaya Hanada (Japan Atomic Energy Agency), Yoshio Saito (High Energy Accelerator Research Organization)

キーワード: 無酸素銅，真空，絶縁破壊，電界電子放出，電界増倍係数　　oxygen-free copper，vacuum，breakdown，field-emission，field enhancement factor

要約(英語): Dark current based on field-emission current is considered as a factor causing the vacuum electrical breakdown between the multi-aperture acceleration grids in the JT-60 negative ion source. In this paper, we focused on field enhancement factor which is a key parameter of field-emission from the electrode. Vacuum breakdown tests for small sized electrodes simulating the multi-aperture acceleration grids of the negative ion source was conducted. We obtained field enhancement factor and breakdown field for multi-aperture electrodes, and we investigated the dependence of each parameter on the number of apertures. The results revealed that the increase of the average field enhancement factor after the end of conditioning due to the increase of the number of apertures decreases dielectric strength of the multi-aperture electrode.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.134 No.12 （2014） 特集：放電研究の最新動向

本誌掲載ページ: 622-628 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/134/12/134_622/_article/-char/ja/