暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害による故障発生メカニズムに関する基礎的検討

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2015/05/01

タイトル(英語): Fundamental Study on a Mechanism of Faulty Outputs from Cryptographic Modules due to IEMI

著者名: 林　優一（東北大学大学院情報科学研究科），本間　尚文（東北大学大学院情報科学研究科），水木　敬明（東北大学大学院情報科学研究科），青木　孝文（東北大学大学院情報科学研究科），曽根　秀昭（東北大学大学院情報科学研究科）

著者名(英語): Yu-ichi Hayashi (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University), Naofumi Homma (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University), Takaaki Mizuki (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University), Takafumi Aoki (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University), Hideaki Sone (Graduate School of Information Sciences, Tohoku University)

キーワード: 意図的な電磁妨害，電磁情報漏えい　　intentional electromagnetic interference，electromagnetic information leakage

要約(英語): This paper investigates a mechanism of faulty outputs from cryptographic modules due to intentional electromagnetic interference (IEMI) which causes information leakage in electric devices without disrupting their functions or damaging their components. We show the mechanism of fault occurrence through experiments using the faulty ciphertexts and the pulse injection to the specific round. The experimental results indicate that faulty outputs from cryptographic modules are caused by setup-time violation to the cryptographic module.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.135 No.5 （2015） 特集：2014年環境電磁工学国際シンポジウム（EMC 2014/Tokyo）

本誌掲載ページ: 276-281 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/135/5/135_276/_article/-char/ja/